X射線衍射法能檢測(cè)鑄件殘余應(yīng)力嗎?
發(fā)布時(shí)間:2025-07-07 02:57:33來(lái)源:瀏覽:122次
X射線衍射法(XRD)可以檢測(cè)鑄件的殘余應(yīng)力,且是目前工程領(lǐng)域應(yīng)用最廣泛的無(wú)損檢測(cè)方法之一。其適用性及關(guān)鍵要點(diǎn)如下:
一、技術(shù)原理與適用性
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基本原理
殘余應(yīng)力會(huì)導(dǎo)致鑄件內(nèi)部晶格發(fā)生畸變,改變晶面間距(d值)。X射線照射到材料表面時(shí),發(fā)生衍射現(xiàn)象,通過(guò)測(cè)量不同方位角的衍射峰位移(衍射角2θ變化),結(jié)合布拉格定律(2d sinθ = nλ)和彈性力學(xué)公式,可計(jì)算出殘余應(yīng)力的大小和方向。
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對(duì)鑄件的適用性
- ? 適用條件:
- 鑄件需為多晶材料(如金屬鑄件),且晶粒尺寸宜在 10–100 μm 范圍內(nèi)。
- 材料需具備足夠結(jié)晶度,能產(chǎn)生清晰的衍射峰。
- 表面曲率不宜過(guò)大(測(cè)試點(diǎn)區(qū)域宜為平面或大曲率曲面)。
- ?? 局限性:
- 若鑄件晶粒粗大(>100 μm)、存在強(qiáng)織構(gòu)(晶粒取向集中)或多相結(jié)構(gòu)(如鑄鐵中的石墨相),可能導(dǎo)致衍射峰重疊或強(qiáng)度過(guò)低,影響精度24。
- 僅能檢測(cè)表層應(yīng)力(穿透深度約 10–30 μm),深層應(yīng)力需結(jié)合電解拋光逐層剝離。

二、檢測(cè)過(guò)程中的關(guān)鍵考量
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試樣預(yù)處理要求
- 表面需清潔無(wú)涂層,若有防護(hù)層(如油漆),需通過(guò)電解拋光去除,避免機(jī)械處理引入附加應(yīng)力。
- 測(cè)試點(diǎn)需平整,曲面區(qū)域需調(diào)整X射線光斑尺寸以適應(yīng)曲率。
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參數(shù)設(shè)置與精度控制
- 需已知材料參數(shù):晶體結(jié)構(gòu)、衍射晶面指數(shù)、X射線彈性常數(shù)等。
- 采用 sin²ψ法(同傾法或側(cè)傾法)進(jìn)行多角度測(cè)量,設(shè)備需滿足 ASTM E915、GB/T 7704-2017 等標(biāo)準(zhǔn)精度要求(如重復(fù)性誤差<±7 MPa)。
三、實(shí)際應(yīng)用中的注意事項(xiàng)
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結(jié)果準(zhǔn)確性影響因素
- 應(yīng)力梯度:表層存在劇烈應(yīng)力變化時(shí),需多點(diǎn)測(cè)量取均值。
- 織構(gòu)干擾:若各ψ角衍射峰強(qiáng)度比>3,表明織構(gòu)較強(qiáng),需校正算法。
- 設(shè)備校準(zhǔn):儀器需定期校驗(yàn)ψ角旋轉(zhuǎn)中心偏差(<±5%)。
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工程案例參考
- 已成功用于航空發(fā)動(dòng)機(jī)葉片(鈦合金鑄件)、齒輪齒根等復(fù)雜構(gòu)件的殘余應(yīng)力檢測(cè),通過(guò)冷膨脹工藝引入壓應(yīng)力的效果評(píng)估。
- 在汽車鑄件(如曲軸、輪轂)中,用于優(yōu)化熱處理工藝,減少變形風(fēng)險(xiǎn)。
四、結(jié)論與建議
X射線衍射法適用于大多數(shù)金屬鑄件的表層殘余應(yīng)力檢測(cè),尤其在航空航天、汽車制造領(lǐng)域技術(shù)成熟。若您的鑄件符合以下條件可優(yōu)先選擇:
- 晶粒細(xì)小均勻(無(wú)粗晶或強(qiáng)織構(gòu));
- 需無(wú)損、高精度(±10 MPa級(jí))的表層應(yīng)力分析;
- 具備標(biāo)準(zhǔn)試樣預(yù)處理?xiàng)l件。
對(duì)于深層應(yīng)力或粗晶鑄件,建議結(jié)合中子衍射法(穿透深度高)或盲孔法(有損)作為補(bǔ)充。